Model based testing for electronic devices

Test base sur un modele pour dispositifs electroniques

Abstract

L'invention concerne un procédé basé sur un modèle permettant de tester la conformité de dispositifs de production avec des spécifications de performance d'une conception de dispositif. Les dispositifs de production sont fabriqués conformément à la conception de dispositif au moyen d'un processus de fabrication. Dans le procédé, une forme de modèle simple basée sur la conception de dispositif et les spécifications de performance est développée (212), un stimulus pour tester les dispositifs de production est spécifié (214) et chaque dispositif de production est testé (220). La forme de modèle possède une fonction de base et des paramètres de forme de modèle pour cette fonction de base. Les paramètres de forme de modèle dépendent du processus de fabrication et diffèrent en termes de valeur entre les différents dispositifs de production. Un dispositif de production est testé par mesure (222) de la réponse du dispositif de production au stimulus, par extraction (224), au moyen de la forme de modèle, des valeurs des paramètres de forme de modèle pour le dispositif de production à partir de la réponse mesurée et du stimulus, et par vérification (226) de la conformité du dispositif de production avec les spécifications de performance au moyen des valeurs extraites des paramètres de forme de modèle.
The model-based method tests compliance of production devices with the performance specifications of a device design. The production devices are manufactured in accordance with the device design by a manufacturing process. In the method, a simple model form based on the device design and the performance specifications is developed (212), a stimulus for testing the production devices is specified (214) and each production device is tested (220). The model form has a basis function and model form parameters for the basis function. The model form parameters are dependent on the manufacturing process and differ in value among the production devices. A production device is tested by measuring (222) the response of the production device to the stimulus; extracting (224), using the model form, the values of the model form parameters for the production device from the measured response and the stimulus; and checking (226) compliance of the production device with the performance specifications using the extracted values of the model form parameters.

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Patent Citations (3)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle
    US-2006026481-A1February 02, 2006Monnerat Edward DSystem and method for testing electronic device performance
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