Spatial and temporal selective laser assisted fault localization

Localisation de defauts au laser temporelle et spatiale selective

Abstract

L'invention concerne un procédé et un appareil de mappage de défauts au laser, permettant de synchroniser la commande laser et l'appareil testeur. Le procédé de l'invention consiste en un mappage au laser pseudo-statique des défauts pour localiser les défauts dans un dispositif dont les entrées sont simulées dynamiquement par un appareil testeur. Il consiste également en un mappage au laser dynamique des erreurs non systématiques, permettant la localisation en termes d'emplacements et la corrélation par rapport à un vecteur d'essai spécifique, des zones sensibles d'un dispositif au moyen de critères de performance des dispositifs, tels que les sorties d'état réussi ou échoué. Cet appareil comporte un appareil de stimulation laser dynamique à commande intégrale connecté à une unité de commande assurant la synchronisation complète avec un appareil testeur.
A method and apparatus (Figure 1) for laser-assisted fault mapping synchronizes laser control (11) whith tester unit (6). The inventive method provides for laser-assisted pseudo-static fault mapping to localize defects in a device (2) whose inputs (4) are being stimulated dynamically by a tester unit. It further provides for laser-assisted dynamic soft error mapping, to localize in terms of location and to correlate with respect to a specific test vector, sensitive areas in a device by utilizing device performance criteria such as pass-fail status outputs. The apparatus includes a fully controllable dynamic laser stimulation apparatus (8) connected to the control unit that provides complete synchronization with a tester unit.

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Patent Citations (3)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle
    US-5270643-ADecember 14, 1993Schlumberger TechnologiesPulsed laser photoemission electron-beam probe
    US-5451863-ASeptember 19, 1995International Business Machines CorporationFiber optic probe with a magneto-optic film on an end surface for detecting a current in an integrated circuit
    US-6137304-AOctober 24, 2000Nec CorporationMethod and device of testing semiconductor integrated circuit chip capable of preventing electron-hole pairs

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Cited By (8)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle
    FR-2876188-A1April 07, 2006Cnes EpicProcede et installation d'analyse d'un circuit integre
    FR-2919402-A1January 30, 2009Eads Europ Aeronautic DefenceProcede de test d'une application logicielle.
    JP-2010534331-ANovember 04, 2010ヨーロピアン・アエロノーティック・ディフェンス・アンド・スペース・カンパニー・イーデス・フランスソフトウェア・アプリケーションをテストする方法
    JP-2010538289-ADecember 09, 2010ヨーロピアン・アエロノーティック・ディフェンス・アンド・スペース・カンパニー・イーデス・フランス活動的な相互作用への電子コンポーネントの感受性の特性評価を行う方法
    US-7560940-B2July 14, 2009Centre National D'etudes SpatialesMethod and installation for analyzing an integrated circuit
    US-9213614-B2December 15, 2015European Aernautic Defence And Space Company Eads FranceMethod for testing a software application
    WO-2006037881-A1April 13, 2006Centre National D'etudes SpatialesMethod and installation for analyzing an integrated circuit
    WO-2009013419-A1January 29, 2009European Aeronautic Defence And Space Company Eads FranceProcédé de test d'une application logicielle